本发明公开了一种高低温环境下芯片的批量化检测线，包括：输送线体，沿料盘输送方向依次设有上料、拾取和下料工位；两套检测组件，对称布置在输送线体两侧，包括芯片拾取机械手、检测柜阵列、分料转盘、第一视觉装置；以及料框机械手，用于将空料盘转送至分料转盘上和将分料转盘上的载满芯片的料盘转送至输送线体上，其中，所述检测柜设置有垂直分布的多层检测盒，所述检测盒中设有加热器、抽屉和用于驱动抽屉开闭的直线驱动器，所述抽屉中排布有用于高低温环境下芯片检测的若干芯片检测单元。本检测线能够提供高低温环境测试，检测盒采用垂直空间分布，节省占地面积。设备兼容性好，通过更换检测工装可以兼容不同的电子产品的检测。