一种基于旋光效应和比例测量进行脉冲强磁场校准的方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种基于旋光效应和比例测量的脉冲强磁场校准装置和校准方法,包括有光源部分、分光器、恒定磁场复现装置、脉冲磁场复现装置、检测装置及第一晶体与第二晶体;其中光源部分包括激光器和偏振片,检测装置由光强计以及差分比较器构成,恒定磁场复现装置由螺线管磁场线圈产生恒定磁场,脉冲磁场复现装置由脉冲磁场线圈产生脉冲磁场;恒定磁场所选择晶体与脉冲磁场复所选择晶体的长度比例控制10∶1~100∶1之间的若干组合。对比已有技术,能够避免平行极板的磁场分布不均匀导致测量不准确的问题,同时回避了旋光参数的准确测量问题,实现脉冲磁场与恒定磁场的数值比对,显著提高测量不确定度水平的效果。

基本信息
专利标题 :
一种基于旋光效应和比例测量进行脉冲强磁场校准的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114460517A
申请号 :
CN202111644569.8
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2021-12-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周鹰包忠张晓锋王范
申请人 :
宜昌测试技术研究所
申请人地址 :
湖北省宜昌市西陵区胜利三路58号
代理机构 :
北京理工大学专利中心
代理人 :
温子云
优先权 :
CN202111644569.8
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00  G01R33/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20211229
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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