一种支持向量机回归结合灵敏度分析的元素含量定量分析方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及X射线荧光仪(XRF)元素定量分析领域,特别涉及一种支持向量机回归结合灵敏度分析的元素含量定量分析方法。是基于在XRF光谱的元素定量分析中,特征和元素具有明确的对应关系这一特点,通过训练样本集构建SVR模型,再通过SVR模型和灵敏度分析方法获得高灵敏度元素,基于高灵敏度元素和训练样本集构建经过特征降维后的SVR*模型,来实现元素的定量分析。与现有技术相比,本发明通过改变现有模型的特征输入,观察改变前后输出的变化即可得到特征的灵敏度系数,分析过程计算简单,复杂度小,有利于工程实现。分析过程中,未改变数据结构,定量分析精度和泛化能力更高,可广泛应用于元素的XRF定量分析领域。
基本信息
专利标题 :
一种支持向量机回归结合灵敏度分析的元素含量定量分析方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114460116A
申请号 :
CN202111648616.6
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李福生曾小龙
申请人 :
电子科技大学
申请人地址 :
四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
代理机构 :
电子科技大学专利中心
代理人 :
闫树平
优先权 :
CN202111648616.6
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223 G06F30/27 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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