可准确测量介质横向与纵向声学声子速度的共焦显微装置
实质审查的生效
摘要

本发明的一种可准确测量介质横向与纵向声学声子速度的共焦显微装置,包括:连续激光器、三维平移台、F‑P干涉仪,三维平移台的上侧放置有待测样品,待测样品的正上方装设有测量物镜;连续激光器的一侧依次装设有λ/2波片、起偏器、分光平片、第一反射镜;F‑P干涉仪的一侧依次装设有共焦针孔、会聚透镜、检偏器、旋转反光镜、第二反射镜。本发明无需在测量过程中改变入射光路与散射光路之间的角度,通过动态切换收集光路的方式,实现对被测材料声学声子速度的快速测量,保证测量结果的原位性及准确性,在测量速度、测量精度以及测量方式复杂程度等方面具有显著优势。

基本信息
专利标题 :
可准确测量介质横向与纵向声学声子速度的共焦显微装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371147A
申请号 :
CN202111654051.2
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吴寒旭杨宏雷付洋杨文哲吕宇涛
申请人 :
北京无线电计量测试研究所
申请人地址 :
北京市海淀区永定路50号12号楼
代理机构 :
中国航天科工集团公司专利中心
代理人 :
张国虹
优先权 :
CN202111654051.2
主分类号 :
G01N21/47
IPC分类号 :
G01N21/47  G01N21/49  G01N21/63  G01H9/00  G02B21/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射,即漫反射
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/47
申请日 : 20211230
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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