本发明涉及半导体集成电路技术领域，具体公开了一种计数值读取方法、计数方法、装置、电子设备及存储介质，其中，读取方法包括以下步骤：读取所述工作存储块中所述基数位存储的基数值；沿字线排列方向搜索获取计数字线，所述计数字线为最后一根首个存储单元写有数据的字线；在所述计数字线中沿位线排列方向搜索获取计数存储单元，所述计数存储单元为所述计数字线中最后一个写有数据的存储单元；根据所述计数存储单元获取所述数据位中的当前计数值；根据所述当前计数值和所述基数值获取所述总计数值；该读取方法通过搜索获取计数字线以初步筛选出计数存储单元的大概位置的做法有效减少了计数值读取过程的平均用时。