用于检测硅光电倍增管阵列信号通断的装置及方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种用于检测硅光电倍增管阵列信号通断的装置及方法,装置包括:放射源、耦合待测SiPM阵列的标准晶体阵列、滤波电路、射频放大电路、ADC采集装置和处理装置;放射源激发标准晶体阵列使待测SiPM阵列输出两类信号;两类信号分别经由滤波电路和射频放大电路至ADC采集装置,ADC采集装置基于时间触发路的信号采集N路能量信息并将采集的N路能量信号传输至处理装置,以使处理装置基于N路能量信号生成用于判断待测SiPM阵列中每一SiPM芯片的时间触发路和能量路是否异常的二维位置影像。上述装置可以快速有效检测硅光电倍增管阵列的工作状态,满足当前大规模生产检测的需求,同时可有效降低人力成本。

基本信息
专利标题 :
用于检测硅光电倍增管阵列信号通断的装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384099A
申请号 :
CN202111671771.X
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吕绮雯
申请人 :
江苏赛诺格兰医疗科技有限公司
申请人地址 :
江苏省扬州市江都区仙女镇城北工业园
代理机构 :
北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李会娟
优先权 :
CN202111671771.X
主分类号 :
G01N23/22
IPC分类号 :
G01N23/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/22
申请日 : 20211231
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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