一种信号测试系统
实质审查的生效
摘要
本申请提供一种信号测试系统，包括PI模块、ALGO模块、EOM模块，PI模块用于接收两两正交的多个初始时钟信号以及ALGO模块发送的时钟相位控制信号，输出目标时钟信号，EOM模块用于接收待测信号、目标时钟信号以及ALGO模块发送的阈值电压控制信号，输出对待测信号进行采样的统计结果，ALGO模块用于接收该统计结果，确定待测信号的眼图的眼宽值和眼高值，通过EOM模块利用相位插值PI模块输入的目标时钟信号和ALGO模块发送的阈值电压控制信号对待测信号进行采样统计，ALGO模块利用得到的统计结果确定待测信号的眼图的眼宽值和眼高值，实现对高速信号的眼高和眼宽的自动存储和读取，信号测试系统的功耗较低。
基本信息
专利标题 ：
一种信号测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325196A
申请号 ：
CN202111675904.0
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
卫海燕陈余季翔宇付家喜邰连梁张永领
申请人 ：
龙迅半导体（合肥）股份有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园B3栋
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
柳虹
优先权 ：
CN202111675904.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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