产品状态检测方法及系统
实质审查的生效
摘要
本申请涉及产品检测的领域,尤其是涉及一种产品状态检测方法及系统,其中方法包括拍摄产品以获取产品的初级数字图像;在产品上投射检测光并形成检测光点;获取检测光点的图像,依据检测光点的图像确定检测光点在预设的平面坐标系中的检测位置坐标;将检测位置坐标与平面坐标系中预设的基准位置坐标进行比对得到比对结果;依据比对结果以及检测光的射向与拍摄产品时拍摄方向之间的夹角获取产品的次级图像坐标;依据次级图像坐标计算出产品的次级数字图像;对初级数字图像和次级数字图像进行对比得到产品的状态。本申请具有便于降低产品状态检测误判率的效果。
基本信息
专利标题 :
产品状态检测方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324363A
申请号 :
CN202111676707.0
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
詹凯富阙石男
申请人 :
苏州艾方芯动自动化设备有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市相城区渭塘镇澄阳路3366号
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
何爽
优先权 :
CN202111676707.0
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88 G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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