一种避免高温化学品蚀刻反应喷淋过程结晶形成的方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种避免高温化学品蚀刻反应喷淋过程结晶形成的方法,涉及到半导体技术领域,包括:S1、进行晶圆的分布式阶段性控制,进行所述晶圆的中心、所述晶圆的外缘以及所述晶圆与所述清洗腔体之间的间隔三个不同位置的差异优化;S2、进行晶圆的差异化热流分布,通过纯净空气吹送单元向所述晶圆的上表面输送热风吹送进行气流增速,将液体的流动与处理能力集中在所述晶圆外缘位置并促进阶梯化强对流的方式进行流动;S3、进行晶圆的三维方向的表面温度控制。本发明中通过对晶圆的流场的优化控制,利用热风喷向晶圆表面及边缘区域,控制晶圆的表面及边缘区域温度,破坏结晶的基础条件,从而避免晶圆的表面及边缘区域出现结晶现象,提高清洗效果。
基本信息
专利标题 :
一种避免高温化学品蚀刻反应喷淋过程结晶形成的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114420542A
申请号 :
CN202111677872.8
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
邓信甫黄茂烘张九勤
申请人 :
至微半导体(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市闵行区紫海路170号1幢3层03室
代理机构 :
上海申新律师事务所
代理人 :
竺路玲
优先权 :
CN202111677872.8
主分类号 :
H01L21/02
IPC分类号 :
H01L21/02 H01L21/67 B08B3/02 B08B3/08
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/02
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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