液晶波片密封性检测方法、装置、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本公开提供一种液晶波片密封性检测方法、装置、电子设备及存储介质。其中包括对液晶波片进行预处理;将预处理后的液晶波片分别放入第一测样瓶和第二测样瓶中中进行浸泡,得到第一混晶残留样和第二混晶残留样;通过气相色谱‑质谱法对第一混晶残留样和第二混晶残留样进行分析,得到第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图;将第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图分别与预先得到的第一气相色谱图和第二气相色谱图进行叠加得到第一对比谱图和第二对比谱图;根据第一对比谱图和第二对比谱图确定液晶波片的密封性。上述方案,通过气相色谱‑质谱法进行分析,克服了现有液晶波片密封性检测技术中,液晶波片中密封胶对氦气的吸附性的影响。
基本信息
专利标题 :
液晶波片密封性检测方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114441100A
申请号 :
CN202111681004.7
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
武荣荣梅亮刘红民高会壮王长鑫
申请人 :
航天科工防御技术研究试验中心
申请人地址 :
北京市海淀区永定路50号
代理机构 :
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 :
徐雅琴
优先权 :
CN202111681004.7
主分类号 :
G01M3/02
IPC分类号 :
G01M3/02 G01N30/02 G01N30/72 G02F1/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/00
结构部件的流体密封性的测试
G01M3/02
应用流体或真空
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 3/02
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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