一种开关选择模块测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种开关选择模块测试装置，包括上位机，上位机一端设有与之连接的测试工装，测试工装远离上位机的另一端设有与之连接的开关选择模块。本实用新型的有益效果：由上位机发送控制命令到测试底板的单片机内，单片机通过CAN总线将控制命令上传到FPGA，FPGA将控制命令解析为每个开关模块的控制电平，实现多个开关模块的通道切换。
基本信息
专利标题 ：
一种开关选择模块测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202120574268.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-03-22
授权号 ：
CN216434295U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
王威
申请人 ：
成都嘉泰华力科技有限责任公司
申请人地址 ：
四川省成都市自由贸易试验区成都高新区天府大道中段1366号2栋3层22-31号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202120574268.1
主分类号 ：
G01R31/327
IPC分类号 ：
G01R31/327
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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