用于高辐射本底环境下的低本底小物品辐射污染检测仪
授权
摘要
本实用新型公开了用于高辐射本底环境下的低本底小物品辐射污染检测仪，包括设置于所述辐射污染检测仪主体框架上的屏蔽体，所述屏蔽体的厚度为20mm。本实用新型的目的在于提供一种用于高辐射本底环境下的低本底小物品辐射污染检测仪，解决常规的小物品辐射污染监测仪在高辐射本底环境下，存在最低可探测限和漏报率升高的问题。
基本信息
专利标题 ：
用于高辐射本底环境下的低本底小物品辐射污染检测仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202120743851.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-04-12
授权号 ：
CN216285746U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
胡劲任永屈驰袁敏娟赵毅忠
申请人 ：
中国兵器装备集团自动化研究所有限公司
申请人地址 ：
四川省绵阳市游仙区仙人路二段7号31栋
代理机构 ：
成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
伍旭伟
优先权 ：
CN202120743851.0
主分类号 ：
G01T1/167
IPC分类号 ：
G01T1/167
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量，例如，污染的测量
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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