一种老化试验箱信号控制装置、老化试验箱和试验柜
授权
摘要
本实用新型实施例公开一种老化试验箱信号控制装置、老化试验箱和试验柜，在一个具体实施例中，该试验箱包括具有箱门的箱体及置于所述箱体内的用电器，该信号控制装置包括接近开关、电源开关和控制器，其中，所述接近开关感测所述箱门关闭状态输出第一信号，所述接近开关感测所述箱门打开状态输出第二信号；所述电源开关耦合在电源与用电器之间；所述控制器根据来自所述接近开关的第一信号输出使能所述电源开关的使能信号。
基本信息
专利标题 ：
一种老化试验箱信号控制装置、老化试验箱和试验柜
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121551624.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-07-08
授权号 ：
CN216209500U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
孙栋
申请人 ：
苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区青丘巷8号
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
戴元毅
优先权 ：
CN202121551624.4
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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