一种自聚焦透镜折射率分布检测系统
授权
摘要
本实用新型涉及光学测量技术领域，为解决现有自聚焦透镜折射率分布检测系统环境干扰能力差导致折射率检测精度不高问题，公开了一种自聚焦透镜折射率分布检测系统，自聚焦透镜的前表面反射准直光束后形成参考光束，自聚焦透镜的后表面反射形成测试光束，参考光束与测试光束产生的干涉条纹经分束器反射后，入射至显微成像系统，图像处理系统对相机采集到的自聚焦透镜干涉条纹进行处理，通过解析干涉条纹信息得到自聚焦透镜折射率分布。基于斐索干涉原理的自聚焦透镜折射率分布检测系统实现了高效率、高精度的自聚焦透镜折射率分布检测，同时该斐索干涉仪系统具有抗干扰能力强，体积小的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种自聚焦透镜折射率分布检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121595168.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-07-13
授权号 ：
CN216717775U
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
许峰林槟马锁冬孙鹏陈旭
申请人 ：
苏州大学
申请人地址 ：
江苏省苏州市相城区济学路8号
代理机构 ：
苏州智品专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
丰叶
优先权 ：
CN202121595168.3
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-06-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
