一种用于高通量检测的光电探测阵列装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种用于高通量检测的光电探测阵列装置，包括从上而下依次设置的激发机构、样品装载机构以及探测机构，所述激发机构包括激发光源阵列和导光阵列，所述探测机构包括探测器阵列和滤光阵列；所述导光阵列包括透镜阵列，所述探测器阵列包括光电传感器阵列；所述样品装载机构为多孔阵列结构，且与所述导光阵列和所述滤光阵列上下相对应；采用本实用新型所提供的用于高通量检测的光电探测阵列装置，可以实现多孔道并行检测，大大节省了检测时间。
基本信息
专利标题 ：
一种用于高通量检测的光电探测阵列装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121667155.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-07-21
授权号 ：
CN216208610U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
罗宁一刘开杜生才贺虎成
申请人 ：
维林光电（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物纳米园A2楼226室
代理机构 ：
苏州瑞光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李微
优先权 ：
CN202121667155.2
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84 G01N21/01 G01N15/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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