LED半导体辉度检测机
授权
摘要

本实用新型公开了LED半导体辉度检测机,包括设备壳体,所述设备壳体的内腔安装有驱动框,所述驱动框的内腔固定连接有电机,所述电机的输出端固定连接有螺杆,所述螺杆的底部通过轴承与驱动框的连接处活动连接,所述螺杆的表面螺纹连接有螺块,所述螺块的两侧均固定连接有传动杆。本实用新型通过设备壳体、显示屏、控制按键、密封前板、传动杆、驱动框、摄像头、放置框、竖杆、电机、螺杆、螺块、支撑杆、滑轮和辉度仪,解决了现有市场上的LED半导体辉度检测机不具备使用效果好的功能,在使用过程中,无法对外界的光源进行遮挡,影响检测精度,且设备检测过程中无法对设备内腔进行观察,不利于使用者操作使用的问题。

基本信息
专利标题 :
LED半导体辉度检测机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202121677165.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-07-22
授权号 :
CN216449029U
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
柳圣昊
申请人 :
苏州博测泰自动化设备有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区苏州工业园区唯亭唯华路2号和泰都市生活广场2幢631室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202121677165.4
主分类号 :
G01J1/04
IPC分类号 :
G01J1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/02
零部件
G01J1/04
光学或机械部件
法律状态
2022-05-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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