测量横波斜探头与超声波探伤仪组合水平线性的专用试块
授权
摘要
本实用新型涉及一种测量横波斜探头与超声波探伤仪组合水平线性的专用试块，包括试块基体以及检测块Ι、检测块Ⅱ、检测块Ⅲ和检测块Ⅳ；检测块Ι、检测块Ⅱ、检测块Ⅲ和检测块Ⅳ均呈底面为直角三角形的直三棱柱状，并且四者镶嵌在试块基体中，检测块Ι、检测块Ⅱ、检测块Ⅲ、检测块Ⅳ和试块基体镶嵌在一起形成一个横截面为正方形的立方体形状；检测块Ι、检测块Ⅱ、检测块Ⅲ和检测块Ⅳ四个直三棱柱中的底面三角形的斜边所在的侧面分别位于由检测块Ι、检测块Ⅱ、检测块Ⅲ、检测块Ⅳ和试块基体所形成的立方体的四个侧面上且齐平。本申请提供的专用试块结构紧凑小巧，轻便易携带，可同时适用于焊缝探伤常见四种K值横波斜探头的测量。
基本信息
专利标题 ：
测量横波斜探头与超声波探伤仪组合水平线性的专用试块
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121940243.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-18
授权号 ：
CN216594940U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
田力男冯可云李子洲王鲁乔立捷郦晓慧许辉高国宏朱海宝李海洋
申请人 ：
华电电力科学研究院有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市西湖区西湖科技经济园西园一路10号
代理机构 ：
杭州天欣专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈红
优先权 ：
CN202121940243.5
主分类号 ：
G01N29/30
IPC分类号 ：
G01N29/30 G01N29/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/22
零部件
G01N29/30
校准或比较，例如，用标准物体
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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