一种偏光片检验用全检桌
授权
摘要
本实用新型公开了一种偏光片检验用全检桌，包括底座，所述底座中部安装有升降机构，所述升降机构上通过旋转机构安装有桌体，所述底座后部通过支撑柱安装有位于桌体上方的照明机构，本实用新型克服了现有技术的不足，该全检桌可以实现工作台面的升降、倾斜，提升工作效率、提升偏光片缺陷不良检出精准度的同时，适配人体工程学，降低劳动强度，降低员工流失率。
基本信息
专利标题 ：
一种偏光片检验用全检桌
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121943093.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-18
授权号 ：
CN216247720U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
赵东张建军
申请人 ：
合肥三利谱光电科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市新站区东方大道与铜陵北路交叉口西南角
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202121943093.3
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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