壳体变形度自动测量装置
授权
摘要
本实用新型公开一种壳体变形度自动测量装置，用于检测电子产品的壳体，包括用于放置壳体的工作台；工作台在预设位置开设有多个容置槽；每个容置槽内均设有测距模块，测距模块用于测量壳体的对应部位到自身的距离。本实用新型提供的壳体变形度自动测量装置，在工作台上开设有多个容置槽，并在容置槽内设置测距模块，当壳体放置工作台的台面上时，测距模块能够测量壳体对应部位到自身的距离，然后通过测距模块到工作台的台面之间预设的高度信息来确定壳体该部位到工作台的台面上的距离信息，从而可根据预设的标准距离信息来判断壳体该部位的变形度大小，实现了精确测量的效果。
基本信息
专利标题 ：
壳体变形度自动测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122166655.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-08
授权号 ：
CN216621029U
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
彭建森
申请人 ：
上海闻泰电子科技有限公司
申请人地址 ：
上海市黄浦区北京东路666号B区912-49室
代理机构 ：
北京天盾知识产权代理有限公司
代理人 ：
梁秀秀
优先权 ：
CN202122166655.4
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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