一种测量颗粒材料中超大颗粒含量的装置
授权
摘要

本发明提供一种测量颗粒材料中超大颗粒含量的装置,应用于各种粉体材料、浆料和乳液中超大颗粒含量的定量测量,装置包括介质存置器、至少一个照明模块和计数模块,在介质存置器中先注入适量的纯介质,再注入适量颗粒与介质的混合物,颗粒分离管中的颗粒在重力、浮力和粘滞力的综合作用下发生运动,如颗粒的密度比介质的密度大,则颗粒会在介质中沉降,反之则上浮,必然地,越粗的颗粒沉降或者上浮的速度越大,当颗粒经过测量窗时,由于平行光束的照射,在计数模块中形成投影,并被分析统计,当通过测量窗的颗粒粒径小于预设粒径时,停止测量,可定量得到超大颗粒的数量和粒径分布。还可利用离心机对颗粒在介质中的移动进行加速。

基本信息
专利标题 :
一种测量颗粒材料中超大颗粒含量的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122186274.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-09-09
授权号 :
CN216309714U
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
张福根胡华
申请人 :
珠海真理光学仪器有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市高新区唐家湾镇金唐路1号港湾1号科创园20栋3层301
代理机构 :
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 :
卢泽明
优先权 :
CN202122186274.2
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02  G01N15/04  G01N15/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2022-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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