低损耗的充电放电检测电路
授权
摘要
本实用新型公开一种低损耗的充电放电检测电路，其包括：MCU控制检测电路单元，其包括稳压供电模块和MCU控制芯片；充电与充电检测触发电路单元，其包括充电控制电路单元、负载、保险丝、电池、电阻R7和电阻R3、MOS管、第一三极管，电阻R7连接电阻R8后连接充电控制电路单元及负载，MOS管的S极与D极分别连接电阻R7两端，MOS管的G极连接MCU控制芯片；第一三极管的C极连接电阻R1后连接稳压供电模块，第一三极管的C极连接MCU控制芯片；放电与放电检测触发电路单元，其包括电池、保险丝、负载、电阻R7和第二三极管、MOS管、电阻R8，第二三极管的E极连接电阻R7和电池的负极；该第二三极管的C极连接电阻R4后连接MCU控制芯片。
基本信息
专利标题 ：
低损耗的充电放电检测电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122196607.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-10
授权号 ：
CN216560798U
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
赖军志李嘉龙
申请人 ：
东莞启益电器机械有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市塘厦镇四村
代理机构 ：
广州市南锋专利事务所有限公司
代理人 ：
黎健
优先权 ：
CN202122196607.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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