印刷电路板内层深度测量潜望式光学结构
授权
摘要
本实用新型公开一种印刷电路板内层深度测量潜望式光学结构，其包括光源发射器、控制器、CCD镜头模块、半透镜模块、深度测量器、第二反射镜模块。深度测量器为L形且其内部具有第一反射镜模块。当入射光线入射到印刷电路板表面铜时产生第一反射光线，并且其光路为经由第二反射镜模块、第一反射镜模块与半透镜模块而至CCD镜头模块，接下来深度测量器于印刷电路板内部空间开始进行移动直到入射光线入射到印刷电路板内层铜以产生第二反射光线，并且其光路为经由第二反射镜模块、第一反射镜模块与半透镜模块而至CCD镜头模块。
基本信息
专利标题 ：
印刷电路板内层深度测量潜望式光学结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122384575.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-29
授权号 ：
CN216523712U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
简祯祈
申请人 ：
南京大量数控科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市六合区雄州工业园区骁骑路1号
代理机构 ：
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
孙皓晨
优先权 ：
CN202122384575.6
主分类号 ：
G01B11/22
IPC分类号 ：
G01B11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/22
用于计量深度
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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