一种用于IGBT功率模块的高精度测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于IGBT功率模块的高精度测试设备，包括工作箱和夹持机构，所述工作箱的内壁上对称固定连接有两个支撑柱。本实用新型，通过推杆、夹板和第二弹簧的配合设置，可以对IGBT本体进行夹持固定，防止IGBT本体松动脱落，在安装块向下移动的同时会带动限位块向下移动，从而带动限位块滑动到凹槽中，凹槽可以对限位块起到限位的作用，防止IGBT本体松动脱落，增强了对IGBT本体的固定效果；通过安装块、第一平板和第一弹簧的配合设置，可以对IGBT本体起到缓冲的作用，防止测试探针和IGBT本体发生刚性接触，导致IGBT本体损坏无法使用，进而提高了IGBT本体的质量。
基本信息
专利标题 ：
一种用于IGBT功率模块的高精度测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122427650.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-09
授权号 ：
CN216310184U
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
丁烜明
申请人 ：
无锡利普思半导体有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市建筑西路599-1(1号楼)十七层1710、1711室
代理机构 ：
北京国昊天诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
张立垚
优先权 ：
CN202122427650.2
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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