一种用于中波红外哈特曼探测器的光学装调机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于中波红外哈特曼探测器的光学装调机构，包括底座、支撑平台和装调平台，底座的上表面左右两端均安装有支撑柱，支撑柱的上端装配支撑平台，支撑平台的上端装配装调平台，支撑平台的上端装配有支撑架；支撑平台的上表面中段开设有方形孔，底座的上表面中段安装有设备箱，设备箱的上表面右端开设有滑孔，滑孔内安装有齿条，齿条的上端穿过方形孔连接装调平台，设备箱的内部安装有电机，且电机的输出端安装有驱动齿轮，且驱动齿轮与齿条相啮合；该用于中波红外哈特曼探测器的光学装调机构，结构简单，操作方便，装调精度高，从而精准的对探测器进行装调操作，以便可提高其工作效率。
基本信息
专利标题 ：
一种用于中波红外哈特曼探测器的光学装调机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122428988.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-09
授权号 ：
CN216309240U
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
曹召良陈召阳杜宏杰曹鹏飞冯石榴曹代茧
申请人 ：
苏州菲斯光电仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴江区太湖新城中山南路568号互联网产业园31幢301室
代理机构 ：
深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张欢欢
优先权 ：
CN202122428988.X
主分类号 ：
G01J9/00
IPC分类号 ：
G01J9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
法律状态
2022-04-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
