一种自动排查坏灯装置
授权
摘要

本实用新型涉及一种自动排查坏灯装置,包括图像获取单元和识别处理单元以及显示单元;图像获取单元与识别处理单元连接,识别处理单元与显示单元连接;进行坏灯排查时镜头光学变焦使图像传感器获取到待检测发光源阵列的清晰图像,图像获取单元用于获取待检测发光源阵列的视频图像,并将视频图像发送至识别处理单元,识别处理单元对接收到的视频图像根据预设的发光源阵列局部区域的亮度进行分析处理并通过显示单元进行显示,识别处理单元在检测到发光源阵列中的一个或多个光源个体的亮度不够时进行声报警并在显示单元中对应框出显示;镜头还用于过滤待检测发光源阵列发出的强光;从而实现对坏灯的自动排查,且电路简单,成本低,体积小,使用方便。

基本信息
专利标题 :
一种自动排查坏灯装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122508420.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-19
授权号 :
CN216449142U
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
张新波
申请人 :
亿联智控科技(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道龙腾社区西成工业区47栋A红山大厦、B桦穗大厦B3A02
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122508420.9
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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