一种锥度测量机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种锥度测量机构，包括基座以及设置在所述基座上的端面定位结构、第一指标器和第二指标器，所述第一指标器和所述第二指标器用于测量到检测目标锥面的不同设定位置的距离，且所述第一指标器和所述第二指标器相对于所述端面定位结构的距离不同，所述端面定位结构用于对检测目标的端面进行定位。采用上述结构设置的本实用新型，可以利用第一指标器、第二指标器测量到目标锥面不同位置的距离，基于两个距离测量差值以及两个测量位置之间的轴向距离即可利用正切函数计算出锥角。
基本信息
专利标题 ：
一种锥度测量机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122543417.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-21
授权号 ：
CN216206204U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
欧安张春晖
申请人 ：
湖南中大创远数控装备有限公司
申请人地址 ：
湖南省长沙市长沙经济技术开发区星沙工业高科技园盼盼路8号
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
易彬
优先权 ：
CN202122543417.0
主分类号 ：
G01B21/22
IPC分类号 ：
G01B21/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/22
•用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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