一种多波长散射偏振荧光测量装置
授权
摘要

本实用新型提供了一种多波长散射偏振荧光测量装置,包括光源、偏振调制系统、入射光路、接收光路、第一分光系统、第二分光系统和数据处理端,其中,光源发出的多波长光,经过偏振调制系统后产生第一偏振光,经过入射光路照射在水样中的悬浮颗粒物,接收光路接收来自被照射的悬浮颗粒物的散射光信号并传送至第一分光系统,散射光信号由第一分光系统分成多束不同的平行散射光,其中多束平行散射光中的一束平行散射光由第二分光系统分成多束不同偏振态的第二偏振光,多束第二偏振光分别通过光电转换器传输至数据处理端,多束平行散射光中的其余平行散射光分别通过荧光探测器传输至数据处理端。本实用新型能够提高对悬浮颗粒物识别的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种多波长散射偏振荧光测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122557396.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-22
授权号 :
CN216622069U
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
杨尚潘麦浩基翁祥涛孙培韬高墨涵崔玮婷黄鸿衡吴南寿曾亚光钟俊平韩定安
申请人 :
佛山科学技术学院;佛山市灵觉科技有限公司
申请人地址 :
广东省佛山市南海区狮山镇仙溪水库西路佛山科学技术学院
代理机构 :
广州新诺专利商标事务所有限公司
代理人 :
梁伟
优先权 :
CN202122557396.8
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02  G01N15/06  G01N21/21  G01N21/47  G01N21/64  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2022-05-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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