一种测试用探头自动对接机构
授权
摘要

本实用新型公开了一种测试用探头自动对接机构,其中,包括:安装座;移动结构,设置于所述安装座;对接结构,设置于所述移动结构;其中,所述对接结构上连接有至少一个探头结构。本实用新型通过对接结构上连接有至少一个探头结构的设置方式,通过可调节的探头结构与待检测产品配合,实现对多个测试点同时测试的目的,提高测试效率,另外通过移动结构与安装座的配合降低探头结构的损耗率,保证质量同时降低了成本。

基本信息
专利标题 :
一种测试用探头自动对接机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122563803.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-22
授权号 :
CN216350861U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
王宏楠刘立伟
申请人 :
深圳技术大学;重庆凯测试验设备有限责任公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区石井街道兰田路3002号
代理机构 :
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
谢松
优先权 :
CN202122563803.6
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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