一种探针模组、压接治具及压接测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种探针模组、压接治具及压接测试装置,属于探针技术领域。所述探针模组包括固定组件和多个探针。固定组件包括固定座和盖板,固定座和盖板可拆卸地连接在一起,且固定座和盖板之间形成空腔。各探针均为Z形结构,多个探针间隔布置在空腔中,且各探针均贯穿固定座和盖板,且任意两个相邻探针的一端的间距大于两个探针的另一端的间距。本实用新型实施例提供的一种探针模组可以增大探针的一端之间的布置间距,从而实现对PCB/FPC上测试点的导通,进而实现对产品的导通。

基本信息
专利标题 :
一种探针模组、压接治具及压接测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122572958.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-25
授权号 :
CN216209350U
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
陈前祎汤友龙
申请人 :
武汉精毅通电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号3号厂房一楼
代理机构 :
武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李佑宏
优先权 :
CN202122572958.6
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R1/073  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-04-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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