测试电路板及测试设备
授权
摘要
本实用新型公开一种测试电路板，适用于测试BGA SSD，该测试电路板包括基板和电源模块；所述基板至少包括层叠设置的布线层和导电层，所述布线层上设有第一导电通孔组和第二导电通孔组，所述第一导电通孔组和所述第二导电通孔组通过所述导电层电导通；所述电源模块设于所述布线层远离所述导电层的一表面并覆盖所述第一导电通孔组，所述第一导电通孔组与所述电源模块电连接，所述第二导电通孔组用于连接所述布线层上的电子元件。本实用新型测试电路板适用于测试BGA SSD，其减少了电源模块与其它电子元件在布线层上的走线长度，可有效的降低测试BGA SSD时的噪声，从而提供较佳的测试环境，保证测试结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
测试电路板及测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122577295.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-25
授权号 ：
CN216528043U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
孙成思孙日欣刘小刚
申请人 ：
深圳佰维存储科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼
代理机构 ：
深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
隆毅
优先权 ：
CN202122577295.7
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56 H05K1/11 H05K1/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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