一种防止压伤待测产品的探针结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种防止压伤待测产品的探针结构,所述探针包括针头和针座,所述针座为设有盲孔的套筒状结构,所述针头尾部卡接于针座的盲孔中,并且针头与针座构成伸缩式活动连接结构。本实用新型将探针设计成在压力过大时,可以伸缩的结构,使其在测试时,探针针头接触FPC测试点后,如果压力过大则探针针头压缩泡棉或弹簧而回退,从而避免探针头刺伤待测产品,而又可以在泡棉或者弹簧支撑作用下保持和测试点稳定接触实现电路连接,进而完成测试,测试稳定,又不会损伤待测产品。
基本信息
专利标题 :
一种防止压伤待测产品的探针结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122596278.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-27
授权号 :
CN216525963U
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
李春平樊劼
申请人 :
信利光电股份有限公司
申请人地址 :
广东省汕尾市区工业大道信利工业城一区第15栋
代理机构 :
北京德崇智捷知识产权代理有限公司
代理人 :
邢飞飞
优先权 :
CN202122596278.8
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-05-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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