一种弯折寿命测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种弯折寿命测试装置,其包括夹具底座以及设置在所述夹具底座上的设备支架,所述夹具底座上还设有沿一直线方向移动的两个夹具,两个所述夹具分别位于所述设备支架的两侧。本实用新型的一种弯折寿命测试装置在使用时,可利用夹具底座上的两个夹具分别夹持住待测设备的两端,如夹持住圆弧形的AR后脑支架的两端,利用设备支架支抵在AR后脑支架的底部,起到支撑和限位作用,然后启动驱动电机,驱使两个或一个夹具按照设定的频率沿滑轨来回地移动,观察AR后脑支架的弯折疲劳程度。
基本信息
专利标题 :
一种弯折寿命测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122616522.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-28
授权号 :
CN216350110U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
陈小凤
申请人 :
希姆通信息技术(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市长宁区金钟路633号1幢702室
代理机构 :
上海唯源专利代理有限公司
代理人 :
曾耀先
优先权 :
CN202122616522.2
主分类号 :
G01N3/38
IPC分类号 :
G01N3/38 G01N3/20 G01N3/02 G01N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/32
施加重复力或脉动力
G01N3/38
由电磁装置产生的
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载