一种基于LED投影模组的检测照明系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于LED投影模组的检测照明系统，包括光电探测器、固定连接于光电探测器探测端并用于收集待检测的样品表面散射光线收集的光线采集镜组，光线采集镜组的外侧设置有至少一个LED投影照明模组，每个LED投影照明模组的轴线均与光线采集镜组的轴线在垂直面内成一夹角a设置，所有LED投影照明模组发出的光线汇聚于样品的表面且待检测样品表面散射光线汇聚于光线采集镜组的光线采集处。本实用新型采用多组LED投影照明模组，以物镜的光轴为中心轴均匀分布，将LED光源光处理后变成近似平行或者聚焦的光束，最后以相对于样品水平面一定角度投射到样品上，使照明光斑在样品表面重叠，实现一个照明均匀度高、亮度高的照明光源。
基本信息
专利标题 ：
一种基于LED投影模组的检测照明系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122620598.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-29
授权号 ：
CN216350391U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
朱干军高昆白伟王旭东黄磊吴洪坤
申请人 ：
中电科风华信息装备股份有限公司
申请人地址 ：
山西省太原市万柏林区和平南路115号
代理机构 ：
合肥律通专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵春海
优先权 ：
CN202122620598.2
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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