拉伸薄膜光学检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种拉伸薄膜光学检测装置，其特征在于：包括依次排列设置的光源、拉伸薄膜固定装置和成像装置，其中，所述拉伸薄膜固定装置上固定有具备旋光性的拉伸薄膜，还包括设置在所述光源与所述拉伸薄膜固定装置之间的起偏器及设置在所述拉伸薄膜固定装置与所述成像装置之间的检偏器，所述起偏器与所述检偏器的平行或正交配置，且所述拉伸薄膜拉伸后的分子链排方向与所述起偏器的起偏方向成一夹角a，其中，0°≤a<180°。本装置实现了对拉伸薄膜有效的高对比度的成像。
基本信息
专利标题 ：
拉伸薄膜光学检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122629613.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-29
授权号 ：
CN216206540U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
闫东波王玉峰
申请人 ：
北京澳普乐科技开发有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区东三环北路3号B座1105
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
侯丽燕
优先权 ：
CN202122629613.X
主分类号 ：
G01D21/00
IPC分类号 ：
G01D21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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