一种样品前处理平台以及样品自动化前处理系统
授权
摘要

本实用新型公开一种样品前处理平台以及样品自动化前处理系统,其中样品前处理平台包括从左至右依次排列的条码扫码器、试管架区、深孔板载架区、质控校准区、处理剂试剂区、内标试剂区,所述试管架区内设有多排试管架,所述试管架靠近所述条码扫码器的一侧设有扫码窗口,所述质控校准区、处理剂试剂区、内标试剂区的后方设有加样针盒,所述加样针盒内设有多个tip头加样针;其中样品自动化前处理系统包括上述的样品前处理平台。本实用新型优化了整个平台的布局,排布合理紧凑,样本前处理效率更高。

基本信息
专利标题 :
一种样品前处理平台以及样品自动化前处理系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122687719.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-04
授权号 :
CN216484816U
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
王峰谢由之吴开电
申请人 :
湖南德米特仪器有限公司
申请人地址 :
湖南省长沙市高新开发区麓天路28号金瑞麓谷科技园B-5栋402房
代理机构 :
长沙优企知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘佳芳
优先权 :
CN202122687719.5
主分类号 :
G01N30/06
IPC分类号 :
G01N30/06  G01N35/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象,或者利用离子交换,例如色谱法将材料分离成各个组分,来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
G01N30/04
待分析样品的制备或注入
G01N30/06
制备
法律状态
2022-05-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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