一种用于测厚宽的激光测径仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于测厚宽的激光测径仪，通过将激光测径仪本体的下表面安装在支架的呈45度角延伸的斜面上，此时激光测径仪本体的测量空间的角度改变45度，以实现从水平方向和竖直方向进行测量，且需要测厚宽的被测物下表面搁置在两个导向机构位于下方的两个导轮上且沿着水平方向延伸穿过测量空间，以实现测量厚宽；另外导向机构的转动臂转动到不同角度后，可实现调整两个导轮之间的高度差，配合限位组件，以实现固定不同厚度的被测物。
基本信息
专利标题 ：
一种用于测厚宽的激光测径仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122694197.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-04
授权号 ：
CN216206067U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
黄平英
申请人 ：
绍兴四玖科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省绍兴市越城区孙端镇许家桥村2幢5楼
代理机构 ：
北京众允专利代理有限公司
代理人 ：
沈小青
优先权 ：
CN202122694197.1
主分类号 ：
G01B11/08
IPC分类号 ：
G01B11/08 G01B11/02 G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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