一种勘察测绘用放样装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种勘察测绘用放样装置,包括固定板,所述固定板的上侧安装有防护罩,且防护罩的内部转动连接有第一齿轮,所述第一齿轮的一侧设置有第二齿轮,且第二齿轮的上侧安装有第一旋钮,所述第一齿轮的上侧安装有转动轴,且转动轴的上侧安装有测绘仪,所述固定板的下侧连接有固定筒,且固定筒的内部设置有螺纹杆,所述螺纹杆的下侧连接有第二旋钮。该勘察测绘用放样装置,通过设置固定筒、螺纹杆、滑块和连接杆,滑块与螺纹杆螺纹连接,带动滑块上下移动,连接杆与滑块转动连接,与另一侧连接件相铰接,方便同时撑起三个支撑筒,使其不会在使用时发生晃动,增加装置的稳定性,提高其实用性。

基本信息
专利标题 :
一种勘察测绘用放样装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122723968.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-08
授权号 :
CN216206504U
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
李大明李建国任伟王喆王博刘国贵郭鹏双穆星任多慧辛全伟王爽王海博于洋于跃杨婧
申请人 :
中冶沈勘工程技术有限公司
申请人地址 :
辽宁省沈阳市浑南区白塔三街300号
代理机构 :
安徽思沃达知识产权代理有限公司
代理人 :
赵晶莹
优先权 :
CN202122723968.5
主分类号 :
G01D11/30
IPC分类号 :
G01D11/30  G01C15/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D11/00
非专用于特定变量的测量装置的组件
G01D11/30
专门适用于一台仪器的支架;专门适用于一组仪器的支架
法律状态
2022-04-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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