一种偏光片外观检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种偏光片外观检测设备,包括机箱,所述机箱的外部一端设置有柜门,所述所述机箱的上端顶部开设有放置槽;光线折射机构,其设置于所述放置槽的内部一侧;光源照射机构,其设置于所述放置槽的内部另一侧;所述放置槽的内部一侧设置有偏光片放置台;调节杆,其设置于所述偏光片放置台的上端顶部;光线接收板,其设置于所述调节杆的上端顶部;数据显示屏,其设置于所述光线接收板的上端处。该偏光片外观检测设备,利用光线在穿过偏光片时,会使光线的强度折射以及穿过的光线强度发生改变,而利用其定点处折射过后的光线强度数据,来与正常状态下,偏光片的折射率进行对比,以此来进行检测该偏光片是否出现故障,质量问题。
基本信息
专利标题 :
一种偏光片外观检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122760444.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-11
授权号 :
CN216284925U
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
黄纯
申请人 :
深圳市亿海顺光电科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区坑梓街道沙田社区丹梓北路19号4栋501
代理机构 :
深圳市正德知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
王玉梅
优先权 :
CN202122760444.3
主分类号 :
G01N21/41
IPC分类号 :
G01N21/41 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
法律状态
2022-04-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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