一种多点温度测试仪
授权
摘要
本实用新型提供一种多点温度测试仪，包括：MCU模块、显示模块和温度采集模块，所述MCU模块分别与所述显示模块和所述温度采集模块连接，所述MCU模块为AT89C51芯片，所述温度采集模块包括多个温度采集器，所述温度采集器包括DS18B20温度传感器，所述显示模块包括LM016L液晶模块和RESPACK‑8排阻。如上，本实用新型的一种多点温度测试仪，解决不容易扩展、检测温度范围小的问题，设计合理，适于生产和推广应用。
基本信息
专利标题 ：
一种多点温度测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122763384.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-11
授权号 ：
CN216246878U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
李二强邱恒张秋金李正珠李磊周彬彬金珍炯
申请人 ：
利尔富（苏州）科技设备有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号1#厂房北区4楼
代理机构 ：
上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
夏梦恬
优先权 ：
CN202122763384.0
主分类号 ：
G01K7/00
IPC分类号 ：
G01K7/00 G01K1/02 G01K1/14 G05B19/042
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K7/00
以利用直接对热敏感的电或磁性元件为基础的温度测量
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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