本实用新型公开了一种MCU调试控制电路，包括通信协议处理模块和事件处理模块；其中，通信协议处理模块用于按照通信协议与片外的调试器进行信息交互，通信协议处理模块通过MCU的两个IO接口与片外的调试器电性连接，其中一个IO接口用于传输时钟信号，另一个IO接口用于传输调试指令；事件处理模块与通信协议处理模块电性连接，事件处理模块用于根据接收到的调试指令执行相应的动作，包括但不限于控制MCU的CPU、访问MCU内部的SRAM、访问MCU内部的FLASH中，并将内部数据通过通信协议处理模块传输至调试器。根据本实用新型的MCU调试控制电路，通信协议处理模块提供了高可靠性的通信交互方式，事件处理模块提供了丰富的调试功能，方便软件开发人员进行程序调试。