一种CCD测量用专用基座
授权
摘要
本实用新型涉及CCD测量基座技术领域，具体为一种CCD测量用专用基座，包括基座本体和定位装置，所述基座本体的表面固定安装有测量器，所述基座本体的表面设置有光标，所述基座本体的表面设有定位装置，所述定位装置包括定位块，所述定位块与基座本体的表面固定连接，所述定位块的内部滑动连接有两个限位杆，两个所述限位杆的端侧固定连接有限位板，所述限位板的表面均匀开设有若干个大小不同的凹槽，所述限位板的表面均匀开设有若干个卡槽，所述基座本体的表面固定连接有固定架，所述固定架的表面滑动连接有卡块，所述卡块的尺寸与卡槽的尺寸相适配。本实用新型，解决了多次更换基座本体上的定位块对塑胶件进行定位增加了工作人员工作劳度的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种CCD测量用专用基座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122914928.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-25
授权号 ：
CN216621215U
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
宋建达李基欧
申请人 ：
余姚耀达电子科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省宁波市余姚市阳明街道灵旗路3号
代理机构 ：
北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
汤镇宇
优先权 ：
CN202122914928.9
主分类号 ：
G01D11/30
IPC分类号 ：
G01D11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D11/00
非专用于特定变量的测量装置的组件
G01D11/30
专门适用于一台仪器的支架；专门适用于一组仪器的支架
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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