一种用于荧光分析仪校准测试的荧光标准卡
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于荧光分析仪校准测试的荧光标准卡，包括底壳、设置在所述底壳上的荧光带，所述荧光标准卡还包括设置在所述荧光带上的滤光膜，所述滤光膜的透光率可以设置为0‑100％的任意数值。本实用新型不需要制备不同浓度的荧光材料、不需要通过不同的面积制备不同荧光强度的荧光材料，在固定荧光带强度的情况下，通过简单方便地更换不同透光率的滤光膜，得到具有梯度的荧光标准卡，从而能够方便地对荧光分析仪进行校准测试；本实用新型荧光标准卡中的荧光带统一，仅需要改变滤光膜，从而降低了批间差，提高了校准精度；荧光带由于经过了严格的水氧隔绝的封装保护，荧光标准卡的荧光性能稳定，不易随时间衰减，稳定性高。
基本信息
专利标题 ：
一种用于荧光分析仪校准测试的荧光标准卡
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122920804.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-25
授权号 ：
CN216696068U
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
张思源方龙周银霞徐飞阳房艳明赵叔阳
申请人 ：
苏州星烁纳米科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号纳米城NW06-403
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122920804.1
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-06-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
