本实用新型公开了一种半导体恒温测试台，属于半导体技术领域，包括工作台，所述工作台的顶部固定有自动温控部件，所述自动温控部件的顶部设置有铝制加热台，所述工作台的顶部设置有滑轨，所述滑轨的表面滑动连接有活动块，所述活动块相向的一侧设置有探针模组件，所述活动块远离探针模组件的一侧设置有推手，本实用新型通过自动温控部件中的加热丝方便将铝制加热台加热升高温度，对检测芯片的检测温度进行升高，同时通过温度传感器可对铝制加热台表面的温度进行检测，控制加热丝的断与开，同时对铝制加热台的温度进行自动补偿，保障铝制加热台温度的稳定，使测试充分稳定，解决了传统半导体检测台无法保持恒温环境进行检测的问题。