本实用新型公开了一种IC测试插座换插针结构，具体涉及IC测试技术领域，包括底座和上基座，所述上基座设在底座顶部，所述上基座顶部四角均开设有凹槽，所述上基座顶部中心处开设有嵌槽，所述嵌槽截面设置为工字形，所述嵌槽内壁表面中心处开设有圆孔。本实用新型通过先将多个插针和挡片拼在一起，使用两个插针将一个挡片夹住，避免插针靠在一起发生短路，然后再将插针和挡片的两端卡到卡槽中，合上底座和上基座就可以使用本装置了，在需要拆卸时，先将螺丝从第二螺纹孔内拧出来，然后将上基座和底座分离，最后再将多个挡片和插针从第一通孔内拿出来就可以，结构简单，方便对插针和挡片进行检查更换，使用起来非常方便。