一种台式半导体激光控制器用抗压力检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种台式半导体激光控制器用抗压力检测装置，涉及抗压检测技术领域，为解决现有的抗压力检测装置没有固定半导体激光控制器的装置，导致测量时半导体激光控制器的偏移，测量结果不准确的问题。所述壳体的前端安装有拉门，所述壳体内部的下端固定安装有底板，所述底板上端的中间处设置有半导体激光控制器放置槽，所述半导体激光控制器放置槽的两侧均安装有固定座，所述半导体激光控制器放置槽的后端安装有立柱，立柱与底板焊接固定，所述立柱的下端固定安装有液压伸缩杆，所述液压伸缩杆的下端固定安装有压板，所述压板的上端安装有压力传感器，压力传感器与压板通过螺栓固定。
基本信息
专利标题 ：
一种台式半导体激光控制器用抗压力检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122999175.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-02
授权号 ：
CN216410920U
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
王辉文单娜
申请人 ：
武汉驿天诺科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号
代理机构 ：
苏州拓云知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李锋
优先权 ：
CN202122999175.6
主分类号 ：
G01N3/12
IPC分类号 ：
G01N3/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/12
•••压力试验
法律状态
2022-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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