一种纳米涂层膜厚检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种纳米涂层膜厚检测装置,涉及纳米涂层技术领域,包括工作台,所述工作台的上端开设有第一凹槽和第二凹槽,所述第二凹槽的内部固定连接有第二移动机构,所述第一移动机构的上端固定连接有压紧机构,所述工作台的前端设置有控制面板。本实用新型提供有第一移动机构、第二移动机构和压紧机构,将装置内部增加两组移动结构,一组控制检测仪的位置移动,另一组控制载板的前后移动,两组配合使用可以实现不同位置的移动,方便对纳米涂层膜进行不同位置的厚度检测,同时可以通过压紧机构将纳米涂层膜的两侧进行夹持,防止在检测时出现位置的偏移,可以提高检测的精度,使得装置使用起来更加方便快捷,大大提高了实用性。

基本信息
专利标题 :
一种纳米涂层膜厚检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123029731.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-03
授权号 :
CN216283380U
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
曹丛李凤霞张瑞锋刘继义赵东升王新军王磊
申请人 :
山东省计量科学研究院
申请人地址 :
山东省济南市历下区千佛山东路28号
代理机构 :
安徽思沃达知识产权代理有限公司
代理人 :
赵晶莹
优先权 :
CN202123029731.3
主分类号 :
G01B21/08
IPC分类号 :
G01B21/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/08
用于计量厚度
法律状态
2022-04-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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