一种测量精度高的三维坐标测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种测量精度高的三维坐标测量装置,包括横板,所述横板的上部安装有支撑柱,所述支撑柱的背部安装有多个连接块,两个所述连接块相互靠近的一侧均开设有滑槽,所述滑槽内设置有限位机构,两个所述限位机构之间设置有限位块,所述支撑柱的内部开设有空腔,所述空腔内滑动安装有连接柱,所述连接柱的内部开设有插槽,所述插槽内设置有组装机构,所述插槽内插接设置有连接杆,所述连接杆的上部安装有测量仪本体。本实用新型在使用时,便于对测量仪本体进行安装,对测量仪本体固定牢固,从而提高了测量仪本体的检测精度,并且便于根据使用情况自由调节测量仪本体的使用高度,大大提高了装置的实用性。

基本信息
专利标题 :
一种测量精度高的三维坐标测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123066481.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-08
授权号 :
CN216523752U
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
花艳艳
申请人 :
华晟瑞达(天津)精密仪器有限公司
申请人地址 :
天津市津南区双港工业区丽港园12号
代理机构 :
天津万信开元专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨鹏
优先权 :
CN202123066481.0
主分类号 :
G01B21/00
IPC分类号 :
G01B21/00  G01C15/00  F16M11/04  F16M11/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2022-05-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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