一种尺寸标定装置及成像检测系统
授权
摘要

本实用新型公开了一种尺寸标定装置及成像检测系统,尺寸标定装置,包括:基座;以及标准件,标准块具有预设已知的形状和尺寸,标准件的一端与基座活动连接,标准件的另一端远离基座,标准件用于与待测物一同置于射线源和平板探测器之间;在射线成像方向上,标准件具有预设的厚度。由于在基座上设有预设已知厚度的标准件,标准件用于与待测物(如锂电池)一同置于射线源和平板探测器之间,使得标准件能够作为待测物的参考标定,通过标准件的图像缩放比例,标定出待测物对应位置的图像缩放比例,进而得出待测物对应位置的实际尺寸。标准件为可活动调节设置,使得标准件能够标定同一待测物的不同位置的缩放比例,进而得出待测物不同位置的实际尺寸。

基本信息
专利标题 :
一种尺寸标定装置及成像检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123072758.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-08
授权号 :
CN216594867U
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
张孝平周三元李青松汪敬存朱成明
申请人 :
深圳市大成精密设备股份有限公司;常州市大成真空技术有限公司;东莞市大成智能装备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道蚝业社区海滨新村14栋28、29
代理机构 :
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司
代理人 :
廖金晖
优先权 :
CN202123072758.0
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G01B15/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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