一种大容量芯片测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其为一种大容量芯片测试装置，包括底板，所述底板的端面设置有检测台，所述检测台的端面中心设置有卡槽，所述卡槽的内部设置有芯片安装台，所述检测台的正面设置有水平仪，所述检测台的端面并且基于卡槽对称设置有安装孔，所述安装孔的内部设置有导柱导套，所述导柱导套的上方设置有压块，本实用新型通过在检测台上设置水平仪，能够保证检测台的水平，同时利用卡槽与芯片安装台的卡接，芯片安装台的端面设置有芯片槽，使得电极块的探针能够更加准确的接触芯片，提高了装置的准确度，保证了检测探针与芯片的稳定接触。
基本信息
专利标题 ：
一种大容量芯片测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123078108.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-09
授权号 ：
CN216670188U
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
艾育林
申请人 ：
江西万年芯微电子有限公司
申请人地址 ：
江西省上饶市万年县高新技术产业区丰收工业园（建设路以北、建元路以南）
代理机构 ：
南昌洪达专利事务所
代理人 ：
刘凌峰
优先权 ：
CN202123078108.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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