一种用于在位测量的波纹度机
授权
摘要

本实用新型属于波纹度检测技术领域,具体为一种用于在位测量的波纹度机,包括微处理器、检出器和电源组件,所述微处理器与TF卡、eMMC、USB接口、电机驱动电路、针位显示LCD、方波激励电路和24位ADC连接,所述方波激励电路与整形电路连接,所述整形电路与检出器建立连接,所述检出器依次与相敏检波电路、低通滤波电路、可编程放大器和24位ADC连接。能够实现在位测量,而传统的轮廓仪需要把工件拿到实验室去。本发明采用笔记本或者Pad控制主机进行测量,并将从主机获取到的数据进行数据,主机与Pad之间采取Wifi无线连接,主机采用锂电池供电。

基本信息
专利标题 :
一种用于在位测量的波纹度机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123089953.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-09
授权号 :
CN216668583U
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
刘志艺
申请人 :
杭州铯原科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市萧山区新街街道盛中村
代理机构 :
沈阳工匠智诚知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
孙楠
优先权 :
CN202123089953.4
主分类号 :
G01B7/34
IPC分类号 :
G01B7/34  G01B7/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/315
••用于检测轮子的准直
G01B7/34
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
2022-06-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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